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      G.657光纤与G.652光纤的熔接性能如何?

      • 2021-11-03
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      光纤的熔接损耗的大小主要由三个因素决定:

        1)、待熔接光纤的几何精度:如包层圆度、芯包同心度等;

        2)、待熔接的两段光纤的对准情况:如端面之间的间隙,纤轴的倾斜,端面的倾斜与弯曲等;

        3)、待熔接的两段光纤的模场直径匹配的情况:熔接损耗会因为模场直径的失配而增大。

        G657标准对光纤的几何特性有非常严格的要求,满足G.657标准的光纤完全可以保证光纤的几何精度;同时现有的光纤端面切割和光纤熔接设备可以保证光纤的端面切割质量和待熔接光纤的对准;更为重要的是,G.657系列光纤在研发阶段就考虑到与G.652光纤的熔接问题,因此采用了全固的材料结构组成并选用了大小合适的模场直径设计值,以实现与G.652光纤低的熔接损耗。


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